XAFS分析装置
XAFS分析装置MIRRORCLE-CV4
MIRRORCLE-CV4は高分解能、高輝度でX線分析に最適な光源です！
1. 高輝度X線 10１３ (photons/sec/mrad2/mm2/0.1%λ)
2. 高分解能小型ビームライン
光源サイズが10μm以下で、広い発散角を持つため、ΔE/E=5000の高いエネルギー分解能を実現します。
分析概要
■ 概要
XAFS(X線吸収端微細構造)は、特定原子付近の構造状態を知ることができ、材料分析等に用いることができます。
EXAFSとNEXAFSの二種類の領域があり、EXAFSは、特定原子の周辺の動径分布を得ることができ、原子の種類や数を知ることができます。一方、NEXAFSは、特定原子の電子状態がわかり、価数などがわかります。
■ 仕様
| 測定エネルギー範囲 | 10keV 〜 25keV |
|---|---|
| 分析可能原子 | K殻：Ga (31) 〜 In (49) L殻：Tl (81) 〜 U (92) |
| エネルギー分解能 (E/DE) | 5,000 |
| 試料形状 | 固体薄膜 |
| 試料厚さ | 数μm〜数十μm (試料による) |
| 試料サイズ | 1cm * 3cm程度 (要相談) |
■ 分析例
試料：Mo 10μm
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