CV シリーズ
MIRRORCLE-CVシリーズ
MIRRORCLE-CV シリーズは、軌道半径8cmという世界最小の卓上型放射光装置であり、X線利用に最適です。
蓄積リングは永久磁石でできており、簡単に移動して利用が可能で、橋梁検査にも利用していただけます。
X線輝度はMIRRORCLEの中で最大であり、XAFS、小角散乱、蛍光X線分析も可能です。
MIRRORCLE-CV1
MIRRORCLE-CV4
高度X線分析利用
右図に示すように、レールに設置したビームラインを切り替えることにより、イメージング、小角散乱、XAFS、たんぱく質構造解析をこの1台で可能にします。CVシリーズの分析利用には次のような特徴があります。
- 高分解能(4μm)の位相コントラスト撮影が可能
- 微小光源点により 100倍の拡大撮影が可能
- X線顕微鏡用光源として最適
- サジタルベントクリスタルを用いて、
分散型XAFS が可能
- ミラーオプティクスを用いて、たんぱく質構造解析が可能
- 微小サンプルの蛍光X線分析が可能
- 野外での利用も可能な小型装置。X線遮蔽も最小限ですみます
下のグラフは、異なる元素のターゲットを用いてMIRRORCLE-CV1 とMIRRORCLE-CV4 から発生するX線のスペクトルを示したものです。
非破壊検査利用
可搬式の非破壊検査マシンとして開発されており、野外利用が可能です。
下図に示しているように、クレーン車に搭載して、橋梁やビル、その他建築物の非破壊検査に威力を発揮します。
スペック表
MIRRORCLEタイプ:
CV4 500Hzモデル
CV4 5kHzモデル
電子周回装置
加速空洞無し
磁石のタイプ
永久磁石
磁石外径
35 cm
中心軌道半径
8 cm
入射法
1/2 共鳴入射法
クライストロンパワー
-
ハーモニクスナンバー
5
重量
250 kg
入射器
MICROTRON
加速周波数
2.856 GHz
RF 源
6 MW パルスクライストロン
ビーム電流(最大)
<300 mA
入射時間ゲート幅
<6 μs
外形寸法
外形 35 cm □
重量
0.4 t
波長領域
硬X線 (10〜3500 keV)
放射角
125 mrad Φ
Density (Brightness)
[photons/s/mrad2/0.1%λ]
1×1010
1×1011
Brilliance
[photons/s/mrad2/mm2/0.1%λ]
1×1014
1×1015
電源容量
20 kVA
100 kVA
モデルの寸法
W60 x D150 x H160 cm
全体の寸法
(ビームライン有り)
-
モデルの重量
(ビームラインは含まず)
5 t (放射線防護シールドを含む)
制御
自動立ち上げ及び制御、遠隔モニター及び測定、
緊急時自動立ち下げ、電流値安定化
MIRRORCLEタイプ:
CV1 1kHzモデル
CV1 10kHzモデル
電子周回装置
加速空洞無し
磁石のタイプ
永久磁石
磁石外径
35 cm
中心軌道半径
8 cm
入射法
1/2 共鳴入射法
クライストロンパワー
-
ハーモニクスナンバー
5
重量
250 kg
入射器
MICROTRON
加速周波数
2.45 GHz
RF 源
5 MW パルスクライストロン
ビーム電流(最大)
<300 mA
入射時間ゲート幅
<6 μs
外形寸法
外形 25 cm □
重量
200 kg
波長領域
硬X線 (8~950 keV)
放射角
200 mrad Φ
Density (Brightness)
[photons/s/mrad2/0.1%λ]
1×1010（集光ミラー使用時1011)
1×1011（集光ミラー使用時1012)
Brilliance
[photons/s/mrad2/mm2/0.1%λ]
1×1014
1×1015
電源容量
35 kVA
100 kVA
モデルの寸法
W80x D100 x H160 cm
全体の寸法
(ビームライン有り)
-
モデルの重量
(ビームラインは含まず)
1.5 t (放射線防護シールドを含む)
制御
自動立ち上げ及び制御、遠隔モニター及び測定、
緊急時自動立ち下げ、電流値安定化
*1 MIRRORCLEのX線強度は、真空度に左右されます。
MIRRORCLECV4は、受注生産となっています。詳細については
i@photon-production.co.jp
までお問い合わせ下さい。
MIRRORCLE-CV シリーズは、軌道半径8cmという世界最小の卓上型放射光装置であり、X線利用に最適です。
蓄積リングは永久磁石でできており、簡単に移動して利用が可能で、橋梁検査にも利用していただけます。
X線輝度はMIRRORCLEの中で最大であり、XAFS、小角散乱、蛍光X線分析も可能です。
MIRRORCLE-CV1 |
MIRRORCLE-CV4 |
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高度X線分析利用
右図に示すように、レールに設置したビームラインを切り替えることにより、イメージング、小角散乱、XAFS、たんぱく質構造解析をこの1台で可能にします。CVシリーズの分析利用には次のような特徴があります。
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下のグラフは、異なる元素のターゲットを用いてMIRRORCLE-CV1 とMIRRORCLE-CV4 から発生するX線のスペクトルを示したものです。
非破壊検査利用
可搬式の非破壊検査マシンとして開発されており、野外利用が可能です。下図に示しているように、クレーン車に搭載して、橋梁やビル、その他建築物の非破壊検査に威力を発揮します。
スペック表
| MIRRORCLEタイプ: | CV4 500Hzモデル |
CV4 5kHzモデル |
| 電子周回装置 | 加速空洞無し | |
| 磁石のタイプ | 永久磁石 | |
| 磁石外径 | 35 cm | |
| 中心軌道半径 | 8 cm | |
| 入射法 | 1/2 共鳴入射法 | |
| クライストロンパワー | - | |
| ハーモニクスナンバー | 5 | |
| 重量 | 250 kg | |
| 入射器 | MICROTRON | |
| 加速周波数 | 2.856 GHz | |
| RF 源 | 6 MW パルスクライストロン | |
| ビーム電流(最大) | <300 mA | |
| 入射時間ゲート幅 | <6 μs | |
| 外形寸法 | 外形 35 cm □ | |
| 重量 | 0.4 t | |
| 波長領域 | 硬X線 (10〜3500 keV) | |
| 放射角 | 125 mrad Φ | |
| Density (Brightness) [photons/s/mrad2/0.1%λ] |
1×1010 | 1×1011 |
| Brilliance [photons/s/mrad2/mm2/0.1%λ] |
1×1014 | 1×1015 |
| 電源容量 | 20 kVA | 100 kVA |
| モデルの寸法 | W60 x D150 x H160 cm | |
| 全体の寸法 (ビームライン有り) |
- | |
モデルの重量 (ビームラインは含まず) |
5 t (放射線防護シールドを含む) | |
| 制御 | 自動立ち上げ及び制御、遠隔モニター及び測定、 緊急時自動立ち下げ、電流値安定化 |
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| MIRRORCLEタイプ: | CV1 1kHzモデル |
CV1 10kHzモデル |
| 電子周回装置 | 加速空洞無し | |
| 磁石のタイプ | 永久磁石 | |
| 磁石外径 | 35 cm | |
| 中心軌道半径 | 8 cm | |
| 入射法 | 1/2 共鳴入射法 | |
| クライストロンパワー | - | |
| ハーモニクスナンバー | 5 | |
| 重量 | 250 kg | |
| 入射器 | MICROTRON | |
| 加速周波数 | 2.45 GHz | |
| RF 源 | 5 MW パルスクライストロン | |
| ビーム電流(最大) | <300 mA | |
| 入射時間ゲート幅 | <6 μs | |
| 外形寸法 | 外形 25 cm □ | |
| 重量 | 200 kg | |
| 波長領域 | 硬X線 (8~950 keV) | |
| 放射角 | 200 mrad Φ | |
| Density (Brightness) [photons/s/mrad2/0.1%λ] |
1×1010（集光ミラー使用時1011) | 1×1011（集光ミラー使用時1012) |
| Brilliance [photons/s/mrad2/mm2/0.1%λ] |
1×1014 | 1×1015 |
| 電源容量 | 35 kVA | 100 kVA |
| モデルの寸法 | W80x D100 x H160 cm | |
| 全体の寸法 (ビームライン有り) |
- | |
モデルの重量 (ビームラインは含まず) |
1.5 t (放射線防護シールドを含む) | |
| 制御 | 自動立ち上げ及び制御、遠隔モニター及び測定、 緊急時自動立ち下げ、電流値安定化 |
|
*1 MIRRORCLEのX線強度は、真空度に左右されます。
MIRRORCLECV4は、受注生産となっています。詳細については
i@photon-production.co.jp
までお問い合わせ下さい。